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一种测量硅片和太阳电池少子寿命分析仪的研究

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一种测量硅片和太阳电池少子寿命的分析仪被提出来,解决了微波晶体管测量微波反射功率的非线性问题.在小注入条件下,微波晶体管的电平变化与反射功率的变化成正比,从而证明了微波反射法测量少子寿命的理论成立,还给出了实验数据,说明该种硅片和少子寿命分析仪重复性较好.

徐林、陈风翔、刘梅仓、崔容强

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上海交通大学太阳能研究所(上海)

微波反射法 光电导衰退法 少子寿命 微波晶体管检波器 太阳电池

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