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Sol-Gel法制备PI/SiO<,2>纳米复合薄膜机理研究

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本文在考察了水对Sol -Gel 法制备PI/SiO2 复合薄膜结构与性能影响的基础上,分别在H2O:TEOS=4:1 (传统Sol-Gel )及无外加水(原位同步)的情况下制得PI/SiO2 复合薄膜,以FTIR 及TEM 等手段对两种薄膜中SiO2 粒子的生成、生长过程中的结构形态,即复合薄膜的制备机理进行比较研究,在此基础上提出了PI/SiO2纳米复合薄膜的原位同步法制备机理。

姜立忠、魏小尉、武德珍

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北京化工大学可控化学反应科学与技术基础教育部重点实验室,北京,100029

Sol-Gel法 原位同步法 聚酸亚胺 二氧化硅 复合薄膜材料

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