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MBE生长实用化高质量p-HEMT结构材料

王宝强 曹昕 曾一平

MBE生长实用化高质量p-HEMT结构材料

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作者信息

  • 1. 中国科学院半导体研究所(北京)
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摘要

该文给出一种用MBE方法制备实用的p-HEMT材料方法,其2DEG浓度随材料结构不同在2.0-4.0×10<'12>cm<'-2>之间,室温霍耳迁移率在5000-650cm<'2>v<'-1>S<'-1>之间。厚度不均匀<±1.5;组分不均匀<±1.5;浓度不均匀<±1.5;表面缺陷密度<±100/cm<'2>;通过与器件单位的合作,制备出的栅长为0.7μm p-HEMT器件的直流参数为:I<,dss>~280mA/mm,I<,max>~520-580mA/mm,gm~320-400mS/mm,BV<,DS>>15V(I<,DS=1mA/mm),BV<,GS>>10V,微波特性:P<,0>~600-900mW/mm,G~6-10dB,n<,add>~40-60℅;栅长为0.4μm 的器件的直流参数:I<,max>~800mA/mm,g<,m>>400mS/mm。

关键词

MBE生长/P-HEMT材料

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主办单位

中国电子学会

会议名称

第七届全国固体薄膜学术会议

会议时间

2000-10-01

会议地点

广西北海

会议母体文献

第七届全国固体薄膜学术会议论文集

页码

31-33

出版时间

2000
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