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电子系统可靠性增长和失效密度自适应神经网络模型

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该文利用自适应神经网络对电子系统可靠性增长和失效密度分布进行拟合。对电子系统失效时间序列进行分析，可以发现时间序列存在混沌吸引子。根据时间序列的嵌入维，确定神经网络的输入数，建立三层ＢＰ神经网络。分析和仿真结果表明：此方法比其它方法有更好的拟合和预测结果。

史彩成、赵保军、韩月秋

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理工大学电子工程系

自适应神经网络 可靠性增长 失效密度 混沌吸引子

中国电子学会

中国仪器仪表学会

中国航空学会

第九届全国信号处理学术年会

1999-10-01

北京

信号处理学会学报第十五卷增刊

110-113

1999