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一种简洁有效的ASIC可测性设计技术

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随着ASIC集成规模越来越大,可测性设计技术在数字系统设计过程中的地位愈发重要.本文在已有的可测性设计基础上,提出了一种简洁有效的可测性设计技术,可测试部分不可测故障,提高了故障覆盖率.,

张民选、张承义、王永文、高军

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国防科学技术大学计算机学院(长沙)

ASIC 可测试性设计 故障覆盖率 数字电路

中国计算机学会

第七届计算机工程与工艺学术年会

2001-08-01

太原

第七届计算机工程与工艺学术年会论文集

105-408

2001