基于边界扫描的电路板测试性优化设计

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基于边界扫描的电路板测试性优化设计

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中文摘要：目前,边界扫描技术已成为电路板及器件的主要测试性设计技术之一.基于边界扫描的电路板测试性设计中,近切需要解决“测试性改善程度一定时,如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题.本文首先深入分析了该问题,证明其是—NP-完全问题,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法.仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案.

作者：

刘冠军、温熙森、黎琼炜

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作者单位：

国防科技大学机电工程与自动化学院可靠性试验研究室(湖南长沙)

关键词：

边界扫描优化设计电路板测试性

主办单位：

中国计算机学会

会议名称：

第九届全国容错计算学术大会

会议时间：

2001-10-01

会议地点：

长沙

会议母体文献：

第九届全国容错计算学术大会论文集

页码：

274-278

出版时间：

2001