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交流阻抗谱研究双硫醇组装膜在外加电位下的缺陷形成

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本文用电化学循环伏安法和交流阻抗谱,初步研究了外加电位对于已二硫醇在金上的自组装膜结构的改变和缺陷的形成过程.

张波、李经建、张占军、蔡生民

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北京大学化学与分子工程学院(北京)

电化学循环伏安法 交流阻抗谱 硫醇组装膜 膜缺陷

中国化学会

第十一次全国电化学会议

2001-11-01

南京

第十一次全国电化学会议论文集

94-95

2001