5～100keV X射线谱仪系统的建立及其效率校准

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中文摘要：建立了一套包括Si(Li)X射线谱仪和平面Ge X射线谱仪的高分辨率X射线谱仪系统,分别用于5～30keV和20～100keV能区X射线和低能γ射线能谱的测量.我们使用自己研制的一套高质量的低能X射线校准源,利用二次标准源法对该谱仪系统进行了效率校准.经过精心的校准后,该系统在5～100keV能区,全能峰效率的扩展不确定度U(K=3)≤3﹪.

作者：

赵玉华、岳骞、姚历农、周书华、周静、杜洪善、王里玉、郝秀红、颜素娟、段曦微、袁大庆

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作者单位：

中国原子能科学研究院

关键词：

X射线谱仪全能峰效率平面高纯锗谱仪效率校准

主办单位：

中国核学会

会议名称：

第三届全国核仪器应用学术会议

会议时间：

2001-09-20

会议地点：

桂林

会议母体文献：

第三届全国核仪器应用学术会议论文集

页码：

240-243,180

出版时间：

2001