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X射线荧光光谱分析中基本参数的优化及其应用

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本文对X射线荧光光谱分析中基体效应校正采用的理论影响系数法以基本参数进行了比较和优化,并考察了其对理论影响系数的准确性和实际样品分析结果准确性的影响.

卓尚军、陶光仪、吉昂

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中国科学院上海硅酸盐研究所(上海)

X射线荧光光谱分析 定量分析 基本参数优化 基体效应校正 理论影响系数

中国光谱学会

中国地质学会

中国硅酸盐学会

第五届全国X射线荧光光谱分析学术报告会

2002-05-01

昆明

岩矿测试(第五届全国X射线荧光光谱分析学术报告会论文集)第21卷

7-7

2002