降低BIT虚警的方法研究

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降低BIT虚警的方法研究

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中文摘要：虚警问题是机内测试(BIT)技术在现代武器装备中应用的最大障碍.本文提出了把虚警原因分为三个层次即信号获取层、信号处理层、诊断决策层的新看法,并且分析了各个层次的导致虚警产生的原因,又具体针对各层虚警产生的原因,提出了解决虚警问题的思路和方法.

作者：

王新峰、邱静、刘冠军、钱彦岭、柳新民

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作者单位：

国防科技大学机电工程研究所(长沙)

关键词：

机内测试(BIT) 虚警神经网络信息融合粗糙集

主办单位：

中国振动工程学会

会议名称：

2002年全国振动工程及应用学术会议

会议时间：

2002-10-01

会议地点：

北京

会议母体文献：

2002年全国振动工程及应用学术会议论文集

页码：

31-34

出版时间：

2002