X射线荧光光谱分析中的基本参数法

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中文摘要：1968年美国分析化学杂志(Anal.Chem.)第40卷上连续发表了美国海军研究实验室科学家的两篇重要文章,第一篇首次测定了波长色散X射线荧光光谱仪用X光管原级谱的强度分布,第二篇则首次提出了X射线荧光(XRFS)光谱定量分析中用于元素间吸收-增强效应数学校正的基本参数法(FundamentalParametersMethod).综上所述,XRFS中的基本参数法无论在精密定量分析,或无标样定量分析,以及多层膜或镀层组分及厚度的同时分析方面,均有长足的进展和广阔的应用前景.

作者：

陶光仪

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作者单位：

中科院上海硅酸盐研究所,上海,200050

关键词：

X射线荧光光谱分析基本参数法定量分析

主办单位：

中国地质学会

会议名称：

全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会

会议时间：

2005-10-21

会议地点：

北京

会议母体文献：

理化检验

页码：

1-2

出版时间：

2005