红外波段白光干涉图象测试研究

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中文摘要：: 将通常白光干涉技术中光源宽谱范围从可见光范围推广到近红外800nm～1200nm区域，干涉图案及其视觉特征将因为CCD摄像机的响应函数和样品材料的吸收特性产生极大的改变，本文针对红外波段白光干涉中相关问题对CCD响应特性、滤光片频率宽度及范围和干涉图案零光程差图象特点进行了测试研究。

作者：

李明翟、翟成瑞、薛晨阳、魏天杰

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作者单位：

中北大学电子测试技术国家重点实验室

关键词：

红外波段白光干涉图象测试 CCD摄像机滤光片干涉条纹光程差

主办单位：

中国兵工学会

中国高等教育学会

会议名称：

中国兵工学会第十四届测试技术年会暨中国高等教育学会第二届仪器科学及测控技术年会

会议时间：

2008-07-22

会议地点：

吉林延吉

会议母体文献：

中国兵工学会第十四届测试技术年会暨中国高等教育学会第二届仪器科学及测控技术年会论文集

页码：

1-5

出版时间：

2008