应用于扭曲型硅基材料鉴定的Ｘ射线二维Ｋ－空间图

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应用于扭曲型硅基材料鉴定的Ｘ射线二维Ｋ－空间图

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NETL

作者：

倪卫新

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作者单位：

瑞典林习屏大学

关键词：

X射线衍射分析

主办单位：

中国科学技术协会

会议名称：

中国科学技术协会第二届青年学术年会

会议时间：

1995-07-25

会议地点：

北京

会议母体文献：

中国科学技术协会第二届学术年会（材料科学技术分册）

页码：

418-429

出版时间：

1995