同位素稀释质谱法(IDMS)测定反应堆辐照元件样品中＃+[149]Sm，＃+[150]Sm含量

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同位素稀释质谱法(IDMS)测定反应堆辐照元件样品中＃+[149]Sm，＃+[150]Sm含量

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作者：

李思林

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作者单位：

中国原子能科学研究院

关键词：

同位素稀释法

会议名称：

中国质谱学会无机专业委员会、仪器专业委员会第六届年会

会议时间：

1991-05-01

会议地点：

天津

会议母体文献：

中国质谱学会无机专业及仪器专业委员会第六届年会学术论文集

出版时间：

1991