一种介质周期结构色散特性的严格分析方法----斜入射情况

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一种介质周期结构色散特性的严格分析方法----斜入射情况

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NETL

作者：

孙利国

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作者单位：

中国科学院遥感应用研究所

关键词：

耦合

主办单位：

中国电子学会微波学会

会议名称：

1991年全国微波会议

会议时间：

1991-10-01

会议地点：

陕西源县

会议母体文献：

1991年全国微波会议论文集

页码：

186-190

出版时间：

1991