半导体器件的失效率和计算方法

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半导体器件的失效率和计算方法

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NETL

中文摘要：本文分析了半导体器件失效率的变化趋势或可靠性改进的情况,以一种半导体器件的实例数据介绍了如何采用新概念计算半导体器件的失效率的方法。

关键词：

半导体器件可靠性分析失效率计算

主办单位：

中国电子学会

会议名称：

中国电子学会第十四届青年学术年会

会议时间：

2008-09-01

会议地点：

广州

会议母体文献：

中国电子学会第十四届青年学术年会论文集

页码：

12-14

出版时间：

2008