提高原子力显微镜下木材切片图像质量的研究

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提高原子力显微镜下木材切片图像质量的研究

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中文摘要：原子力显微镜(Atomic Force Microscopy，简称AFM)是研究物质微观结构及其与功能相关性的一种实验工具，具有非常高的横向分辨率和纵向分辨率，但由于操作模式的选择不同及环境因素的影响，对图像的质量会产生影响。本文通过对木材切片的原子力显微镜扫描，及对原子力显微镜的工作环境及工作模式的选择的讨论，对原子力显微镜图像的提高进行了研究。

作者：

于雷、戚大伟

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作者单位：

东北林业大学哈尔滨 150040

关键词：

原子力显微镜木材切片图像质量微观结构

主办单位：

中国林学会

黑龙江省林学会

东北林业大学

会议名称：

第八届中国林业青年学术年会

会议时间：

2008-07-01

会议地点：

哈尔滨

会议母体文献：

第八届中国林业青年学术年会论文集

页码：

1250-1252

出版时间：

2008