X射线图像缺陷提取方法研究

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中文摘要：缺陷检测是保证工件质量的重要技术，对减少或避免因缺陷引起的意外事故有积极的作用。X射线检测技术为缺陷检测提供科学、客观的依据，其中X射线图像的缺陷提取是检测技术的关键步骤。本文首先对X射线图像缺陷提取方法的研究现状进行了综述，然后结合作者的研究工作，介绍了两种缺陷提取方法：一是融合C-V模型和Facet模型的工业CT图像裂纹边缘检测方法，二是基于C-V模型的DR图像缺陷提取方法。

作者：

曾理、刘玲慧、向才兵

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作者单位：

重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室ICT研究中心重庆 400044

关键词：

X射线图像缺陷提取 C-V模型 Facet模型

主办单位：

重庆市机械工程学会

会议名称：

2010年重庆市机械工程学会学术年会

会议时间：

2010-05-28

会议地点：

重庆

会议母体文献：

2010年重庆市机械工程学会学术年会论文集

页码：

126-129

出版时间：

2010