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光子晶体线缺陷波导中的折射率相位移调制增强效应的研究
陈兵 1李永东 1刘纯亮 1唐天同1
作者信息
- 1. 西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室
- 折叠
摘要
我们分别利用平面波展开方法和时域有限差分方法研究了光子晶体线缺陷波导中因材料折射率变化所引起的相位移调制增强效应。这种增强效应源于光子带边缘附近的扁平色散特性。计算结果表明: 对于0.46％的相同折射率变化所引起的相位移调制，光子晶体线缺陷波导中的二相位调制长度仅为均匀 媒质中的11.7％。通过以进一步研究，这种增强效应有望应用与高密度集成光路。
关键词
光波导/晶体缺陷/相位调制/色散特性引用本文复制引用
主办单位
中国电子学会真空电子学分会会议名称
中国电子学会真空电子学分会第十八届学术年会暨军用微波管研讨会会议时间
2011-08-01会议地点
张家界会议母体文献
中国电子学会真空电子学分会第十八届学术年会暨军用微波管研讨会论文集页码
826-829出版时间
2011