摘要
在传热学的基础上,对红外锁相检测方法进行分析研究,建立了一个二维瞬态导热模型;利用有限体积法对建立的模型进行正弦激励条件下的温度场模拟计算,得到缺陷和非缺陷对应表面温度,利用四点平均算法,得到缺陷和非缺陷对应表面在不同频率下的相位信息,取差得到不同频率下的相位差信息,在此基础上利用Levenberg-Marquardt法对试件内部缺陷深度进行了反演识别,并分析了初始假设、缺陷深度大小和固定误差和随机误差对缺陷深度识别的影响,该方法无需准确确定峰值频率和“盲频”,只需要部分频率下的相位差信息就能准确地识别缺陷深度,避免了传统锁相检测中峰值频率和“盲频”的不准确识别对缺陷深度检测的影响.
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