X-射线衍射法测定碳电极的晶粒度

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中文摘要：X-射线具有波动的特性,它的波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播,衍射现象就突出地表现出它的波动特性.X-射线衍射仪就是利用X-射线波动性的原理,实现晶体的衍射功能.从而可以精确测定晶体的结构参数.由于碳电极的晶粒尺寸大小与阳极的寿命有着密切关系,因此利用X-射线衍射方法测定碳电极的晶粒度,可以确保阳极的质量,为提高电解铝的生产工艺提供可靠的数据.

作者：

贾力荣

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作者单位：

辽宁省抚顺市抚顺铝业有限公司质量检验中心晶形组 113001

关键词：

电解铝工业碳电极晶粒度测定 X-射线衍射法

主办单位：

帕纳科X射线分析仪器用户协会

会议名称：

荷兰帕纳科公司第九届用户经验交流会

会议时间：

2006-09-11

会议地点：

河北香河

会议母体文献：

荷兰帕纳科公司第九届用户经验交流会论文集

页码：

88-91

出版时间：

2006