高光谱成像仪光谱定标实验的精度分析

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中文摘要：高光谱成像仪的光谱定标是为了确定仪器各波段中心波长和光谱分辨率,是获取地物光谱信息的必要条件.随着高光谱成像技术的不断发展,高光谱成像仪的光谱分辨率越来越高,必然也对光谱定标的精度提出更高的要求.研究发现单色仪光源辐射强度包络对精度的影响可以达到0.12nm以上,这对于定标精度要求很高的高光谱成像仪来说不可忽略.文中针对500个波段的可见-短波红外推帚式成像光谱仪利用单色仪进行了光谱定标,开展了光谱定标精度的分析,根据不同波长处包络的影响对中心波长精度进行了改善.通过实验得出波长在450～500nm之间的中心波长精度提高了0.2nm左右,约占整个可见光部分的10％,500～620nm波长范围内的中心波长精度提高了0.12nm左右.

作者：

Xie Pei、谢佩、Ma Yan-hua、马艳华、Zhang Li-yuan、张丽媛、Chen Xing-xi、陈星夕

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作者单位：

Shanghai Institute of Technical Physics Chinese Academy of Sciences,Key Laboratory of Space Active Opto-Ei Electronics Technology CaS,Shanghai 200083

Shanghai Jiao Tong University Information Content Analysis Technology National Engineering Laboratory,Shanghai 200240

上海技术物理研究所,主动光电技术重点实验室,上海 200083

上海交通大学,信息内容分析技术国家工程实验室,上海 200240

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关键词：

高光谱成像仪光谱定标精度性能辐射强度

主办单位：

上海市红外与遥感学会

会议名称：

2015年红外、遥感技术与应用研讨会暨交叉科学论坛

会议时间：

2015-10-28

会议地点：

南京

会议母体文献：

2015年红外、遥感技术与应用研讨会暨交叉科学论坛论文集

页码：

1-7

出版时间：

2015