低温(77K)下开关电容阵列ASIC性能测试

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中文摘要：本文搭建了低温下(77K)基于SCA技术的波形数字化测试系统.该测试系统中的SCA芯片是一款集成了开关电容阵列波形采样以及串行化输出功能的32通道专用集成电路,其最大采样速率为50MSPS,读出率为16MHz,每个通道有64个采样电容,该芯片是由0.18umCMOS工艺制造.该芯片常温线性度测试积分非线性为0.39％,低温测试结果表明SCA芯片在温度降低时,偏置电流会减小,通过调整偏置电流至设计值时,可以得到比常温更好的有效精度.

作者：

LIU Feng、刘丰、ZHANG Hongyan、章洪燕、DENG Zhi、邓智、LIU Yinong、刘以农

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作者单位：

清华大学工程物理系,北京 100084

粒子技术与辐射成像教育部重点实验室(清华大学),北京 100084

关键词：

开关电容阵列芯片波形数字化测试采样速率低温环境

主办单位：

中国核学会

中国电子学会

会议名称：

第十八届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议时间：

2016-07-12

会议地点：

成都

会议母体文献：

第十八届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集

页码：

51-56

出版时间：

2016