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关于封装高效晶硅太阳能电池的电学性能的多种电压扫描测试方法对比
Frank Xu 1徐文浩
作者信息
- 1. TüV Rheinland(Shanghai)Co.,Ltd.Solar Technology R&DTüV Rheinland Group
- 折叠
摘要
来自亚洲、欧洲、北美的十个实验室参与了Round-robin测试。本次实验用以检验不同实验室测试高效晶硅电池组件的不同测试步骤的测量结果，侧重于扫描方法。PMAX的最大偏差在0.67%-1.15%之间。加权PM AX的偏差范围在0.79%-1.12%（k=2）之间。本项工作验证了所有的使用的测试方法以及相对应的测量不确定度。
关键词
晶硅太阳能电池/电学性能/实验室测试/电压扫描方法引用本文复制引用
主办单位
中国可再生能源学会会议名称
2021年中国太阳级硅及光伏发电研讨会会议时间
2021-12-07会议地点
江苏扬州会议母体文献
2021年中国太阳级硅及光伏发电研讨会论文集页码
1-17出版时间
2021