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硅基InAs量子点激光器的分子束外延

赵旭熠

硅基InAs量子点激光器的分子束外延

赵旭熠1
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  • 1. 中国科学院大学
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摘要

硅基光电集成系统致力于提升通信数据传输速度和降低功耗,硅基光电子已成为科研界与工业界的热门研究方向。目前,大多数硅基光电集成系统中的电光调制器、光滤波器、分波与合波器、光电探测器已经被成功的实现了。然而,硅基光子学一直面临的问题是硅无法制成有效的发光源,基于硅是间接带隙。科研界正探寻一种高效可靠的硅基光源制备方式。量子点因其结构特殊性十分适合作为硅基激光器有源区,一种有希望实现高质量硅基光源的方法就是将Ⅲ-Ⅴ族量子点集成到硅上。目前已有许多方法能将Ⅲ-Ⅴ族材料集成到硅上,基于材料外延的方式大多需要预制衬底工艺或者极厚的位错过滤层。以Ge作为中介层过渡到GaAs,继而生长InAs量子点激光器结构只需要较薄的过渡层且无需设备切换。使用具备Ⅳ族腔体和Ⅲ-Ⅴ族腔体的分子束外延设备,可实现全MBE的生产方式实现高质量硅基片上集成光源,生产成本低、效率高,具有重大实际应用潜力。 本工作针对硅基光源,通过分子束外延技术,以Ge作为中介层实现硅到Ⅲ-Ⅴ过渡,继续生长1.3μm波段InAs量子点激光器全结构,最后通过标准工艺制作封装硅基激光器,并对硅基激光器进行了表征测试。取得的成果如下: 1.系统研究了InAs量子点的生长条件。生长温度偏低会导致In原子在表面扩散距离短从而形成大量团簇,生长温度偏高会使量子点之间的间距增大,密度下降。生长过程中,InAs的沉积厚度与InAs量子点密度成正相关,密度低的InAs量子点发光强度低,但是InAs沉积厚度过高会形成大量团簇,反而使得最终的InAs量子点发光强度降低。经过系统研究量子点中的生长温度和InAs沉积厚度,在所用的设备上获得分子束外延生长方法制备InAs量子点的最佳生长条件为620℃沉积2.4ML的InAs。 2.采用经典的低高温两步生长方法可以在Si上完成到Ge的过渡,并且缺陷密度控制在106cm-2以下保证后续的高质量生长。利用6°偏角的Si衬底作为基底可以运用其表面的双原子台阶抑制Ⅳ族过渡到Ⅲ-Ⅴ族的反相畴,同时采用迁移增强外延技术和低温GaAs可以保证在SiGe上生长出高质量的GaAs。由于4寸的晶圆与优化InAs量子点采用的小晶圆不一样,需要考虑衬底温区分布和束流源的角度引起的束流分布,对此使用PL mapping优化了4寸晶圆的InAs量子点生长条件。在经典SCH激光器结构的基础之上,在不破坏光场限制的条件下增加了超晶格以提高电导率。在所有生长条件齐全之后,完成了硅基InAs量子点激光器的生长,并制作了激光器器件。 3.完成硅基激光器的外延生长和工艺之后,又对激光器的进行封装测试和分析,硅基FP腔激光器室温连续激射波长位于1.31μm附近,特征温度为30K-40K,受温度影响的红移速度为0.5nm/K均与己报道的硅基InAs量子点激光器的结果相当。本报道中的最佳硅基激光器最高工作温度可达80℃,20℃连续工作模式下,阈值电流密度为375A/cm2,最高输出功率可达62mW,达到较高水平。为探索硅基激光器在粗波分复用领域的应用,也成功制作了4通道硅基InAs量子点DFB激光器。

关键词

砷化铟量子点激光器/硅基光源/分子束外延/性能评估

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授予学位

博士

学科专业

微电子学与固体电子学

导师

龚谦

学位年度

2022

学位授予单位

中国科学院大学

语种

中文

中图分类号

TN
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