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期刊信息/Journal information
计量科学与技术
计量科学与技术

赵大宁

月刊

2096-9015

jljs@nim.ac.cn

010-64218712

100013

北京市朝阳区北三环东路18号

计量科学与技术/Journal Metrology Science and Technology北大核心CSTPCD
查看更多>>本刊由国家质量技术监督局主管,中国计量科学研究院主办。主要栏目有计量技术、理论与实验、测量与设备、检定与规程、计量管理、误差与数据处理、使用与维修、改进与制作等。本刊的读者对象为工矿企业,科研机构及大专院校中从事计量,测试和检验的相关人员。
正式出版
收录年代

    基于非均匀采样的近场散射测量技术研究

    司炜康王维龙
    71-77,17页
    查看更多>>摘要:传统频率步进(Stepped frequency,SF)测量体制通过一组等间隔的离散点频信号合成大测量带宽.由于采样定理的限制,固定频率间隔数据所对应的时域信号将会呈周期出现,此时场地内的背景、多径干扰都有可能混叠至目标区域内,进而对成像和散射测量造成恶劣影响.围绕频率步进体制快速测量方法进行了探索,提出了一种基于非均匀采样的近场散射测量技术.分析了距离混叠效应对散射测量的影响,根据实际应用需求设计了采样函数的优化原则,通过泊松和公式与驻定相位原理(Principle of stationary phase,POSP)对信号包络进行赋形.针对传统非均匀采样重构方法所造成的散射图像退化问题,提出了一种与非均匀采样策略相适配的加权方法,在有效抑制混叠干扰的同时实现了高分辨率成像,并提升了近远场变换(Near Field to Far Field,NF-FF)的精度.

    计量学距离混叠散射测量非均匀采样近场成像近远场变换

    微波暗室静区反射率电平的数据处理方法

    赵兴班浩洪力刘潇...
    78-82,37页
    查看更多>>摘要:微波暗室是工作在微波频段的暗室,是天线、目标散射特性等领域测量中使用的实验场地,用来模拟自由空间,相比与室外测试场,具有全天候、低反射的优势.实际应用中,由于内部铺设的吸波材料无法完全吸收特定频段电磁波等原因,暗室中的测试区域仍会有干扰的反射信号存在,这些反射信号从各个方向进入测试区域并与收发天线之间的直射波叠加,在测试区域内一定行程上形成空间驻波分布.测试区域内的干扰反射指标用静区反射率电平表征.将微波暗室用于天线辐射方向图等参数测量时,应评估暗室中不同角度的静区反射率电平.微波暗室静区反射率电平测量方法常采用自由空间电压驻波比(Voltage Standing Wave Ratio,VSWR)法.测试区域中直射信号和反射信号的矢量和一定行程上形成空间驻波,空间驻波的数据处理方式决定了静区反射率电平计算结果,实际测试曲线中驻波峰峰值的选择方式直接决定了测量结果.详细讨论了微波暗室内反射率电平的采集数据和处理方法,有助于优化现场测量测试的测试方案,并对静区扫描架的优化设计有积极意义.

    计量学微波暗室静区反射率电平测量天线