基于DMA数据定制实现LIN一致性测试的方法及装置

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NSTL
万方数据

中文摘要：本发明公开一种基于DMA数据定制实现LIN一致性测试的方法及装置，方法包括：获取测试命令；根据所述测试命令，定制测试波形，其中，所述测试波形的定制包括电平波形定制和数据波形定制；在所述测试波形满足发送条件时，依次使能直接存储器访问DMA和定时器Timer，将定制的所述测试波形输出至LIN总线的通用输入/输出端口GPIO，实现对LIN总线的数据输出或数据干扰。本发明使用MCU的DMA结合Timer与GPIO完成LIN测试数据波形定制输出，通过Timer周期触发DMA搬运LIN测试数据到GPIO引脚输出，完成定制数据输出以及完成对LIN总线数据干扰，从而完成LIN一致性测试，相对于现有技术而言，具有成本低、便携性高、开发技术难度小的优势。

申请号：

CN202310741401.1

公开号：

CN116827839A

专利类型：

发明专利

申请日：

2023-06-21

公开日：

2023-09-29

IPC分类：

H04L43/50(2022.01)

申请人：

武汉芯必达微电子有限公司

发明人：

胡运权

主申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖高新区华翔中心A2栋16楼

国别省市代码：

中国(CN)