一种基于光学无损检测的微结构低重叠度三维拼接方法

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NSTL

中文摘要：一种基于光学无损检测的微结构低重叠度三维拼接方法。其包括基于实验中测试机构位移平台的运动参数将结构特征提取区域限制在测量过程中的重叠区域；在所述区域内，通过SURF算法进行特征提取；在特征点匹配阶段，根据测量系统位移平台的不确定度进一步提出缩小匹配点对搜索范围的方法以提高特征点匹配可靠性并根据欧式距离最近邻域法得到特征匹配点；以重叠区域的局部连续性为依据，通过STLS算法计算校正矩阵而得到最终拼接。本发明不但适用于特征丰富的结构，也适用于相似度高、特征不明显的阵列型结构，可有效地消除误匹配，提高拼接精度，所述的低重叠度可大大减少因重叠区域而带来的可观的额外测试时间，成功地实现大范围测量。

申请号：

CN201510128067

公开号：

CN104732476B

专利类型：

发明专利

申请日：

2015-03-23

公开日：

2017-11-17

IPC分类：

G06T3/00(2006.01)I

申请人：

中国民航大学

发明人：

张亚娟、王丹、张鸿燕、马龙、苏志刚

主申请人地址：

300300 天津市东丽区津北公路2898号

国别省市代码：

中国(CN)