一种抗菌制品中纳米银迁移表征方法

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中文摘要：一种抗菌制品中纳米银迁移表征方法，属于纳米技术领域。该方法具体步骤包括：（1）样品预处理；（2）建立SP?ICP?MS模式下纳米颗粒粒径标准曲线；（3）建立银离子浓度校准标准曲线；（4）SP?ICP?MS检测样品。本方法基于单颗粒等离子体质谱(SP?ICP?MS)进行颗粒分析的原理，将样品中银离子与银纳米颗粒区分开来并能同时完成纳米颗粒浓度、粒径、粒度分布和颗粒团聚的检测且不受其他纳米颗粒的干扰的优势，可取代现有的纳米材料表征技术，成为一种新兴的快速鉴别的手段。

申请号：

CN202010349453.0

公开号：

CN111537595A

专利类型：

发明专利

申请日：

2020-04-28

公开日：

2020-08-14

IPC分类：

G01N27/62(2006.01)

申请人：

浙江方圆检测集团股份有限公司

发明人：

张越、蒋鑫、郭慧、李鑫、盛华栋、张水峰、刘鹏鹏

主申请人地址：

310018 浙江省杭州市杭州经济技术开发区下沙路300号

国别省市代码：

中国(CN)