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评分卡模型训练方法、装置、存储介质及电子装置

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本发明实施例提供了一种评分卡模型训练方法、装置、存储介质及电子装置,该方法包括:将数据宽表中的连续变量进行分箱得到离散的变量;将该变量输入带约束的逻辑回归模型中,将该逻辑回归模型转换为评分卡模型,并计算该评分卡模型的补偿和刻度,其中,该逻辑回归模型的约束条件是限制该变量系数的下界为非负。通过本发明,由于限制逻辑回归模型中变量系数的下界为非负,解决了相关技术中评分卡模型在使用逻辑回归算法训练模型时自变量间存在多重共线的关系而导致个别变量系数为负,进而导致模型失去原有的解释力的问题,进而达到了避免多次模型迭代、减少模型训练的时间成本和训练开销的效果。

CN202011296435.7

CN112330048A

发明专利

2020-11-18

2021-02-05

G06Q10/04(2012.01)

中国光大银行股份有限公司;光大科技有限公司

史晨阳、胡振禹、卜广庆、王磊、李琨、王瑜、额日和、韩海英、詹俊杰、程一鸣、郭皓、邹华、田江、王青林

100033 北京市西城区太平桥大街25号中国光大中心

中国(CN)