空间角度测量系统及磁光调制器旋光漂移补偿方法

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中文摘要：本发明属于偏振光测角系统技术领域，具体涉及一种空间角度测量系统及磁光调制器旋光漂移补偿的方法，其中系统包括第一偏振光发生单元、第一偏振光接收及测量单元、调制度测量单元和方位角测量及控制单元；第一偏振光发生单元用于发出线偏振光；第一偏振光接收及测量单元用于接收第一偏振光发生单元发出的线偏振光；调制度测量单元用于测量第一偏振光发生单元中的第一磁光调制器和第二磁光调制器的磁光调制度，方位角测量及控制单元用于接收第一偏振光接收及测量单元和调制度测量单元的测量结果并控制第一偏振光接收及测量单元中的分度台转动。通过本申请提供的装置和方法，消除了方位角测量时旋光漂移的影响，提高了系统测量的结果的准确度。

申请号：

CN201811083872.3

公开号：

CN109099882B

专利类型：

发明专利

申请日：

2018-09-17

公开日：

2021-06-11

IPC分类：

G01C1/00(2006.01)

申请人：

西安邮电大学

发明人：

李春艳、乔琳

主申请人地址：

710000 陕西省西安市雁塔区长安南路563号

国别省市代码：

中国(CN)