一种高精度反向双光轴以及多光轴平行性调校方法

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中文摘要：本发明提供一种高精度反向双光轴以及多光轴平行性调校方法，能够在保证调校精度的前提下能够进一步简化调校过程，提高调校效率。该高精度反向双光轴平行性调校方法包括：调校第一光轴使其水平，作为基准轴；调整第一自准直光管与第一光轴共轴；放入平面反射镜，在平面反射镜有效范围内，将第一自准直光管移位使其远离第一光轴前方的区域并避开第二光轴后方的区域，再重新校准第一自准直光管；移出平面反射镜，将第二自准直光管对准第一自准直光管；放入平面反射镜，使其反射像与第二准直光管中心重合；将第二自准直光管移至平面反射镜有效反射范围内对应于第二光轴前方的区域；移出平面反射镜，调整第二光轴，使其与第二自准直光管中心共轴。

申请号：

CN201710828390.5

公开号：

CN107796337A

专利类型：

发明专利

申请日：

2017-09-14

公开日：

2018-03-13

IPC分类：

G01B11/27(20060101)

申请人：

西安科佳光电科技有限公司

发明人：

张亚平、马丽娜、杨芝艳、安飞、张建、王涛

主申请人地址：

710119 陕西省西安市高新区信息大道17号

国别省市代码：

中国(CN)