电大理工2024，Issue(2) ：12-16,35.DOI:10.19469/j.cnki.1003-3297.2024.02.0012

基于ATE的集成电路测试方案研究

吴琳
电大理工2024，Issue(2) ：12-16,35.DOI:10.19469/j.cnki.1003-3297.2024.02.0012
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基于ATE的集成电路测试方案研究

吴琳1
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作者信息

  • 1. 辽宁开放大学[辽宁装备制造职业技术学院],辽宁沈阳 110034
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摘要

随着半导体和集成电路产业的发展与进步,利用自动测试设备开展集成电路自动化测试的研究,对于降低集成电路成本费用、促进集成电路发展,有着极为重要的实际价值.文章在总结集成电路测试分类的基础上,研究基于ATE的集成电路测试方案,分析了集成电路自动测试设备的发展和挑战,集成电路测试设备的软硬件架构,进而重点梳理集成电路测试的研究内容,总结出基于ATE的集成电路的测试方案.文章总结测试的各种因素,为设计更好的测试方案提供参考.

关键词

自动测试设备/集成电路测试/测试流程

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出版年

2024
电大理工
辽宁广播电视大学

电大理工

影响因子：0.253
ISSN：1003-3319
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