绝缘子引线腐蚀断裂研究
Study on corrosion and fracture of insulator lead
高明起 1徐玉娟 2张亚刚 3董东 4王强4
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第二十九研究所,四川成都 610000;电子科技大学,四川成都 611731
- 2. 中国电子科技集团公司第四十研究所,安徽蚌埠 233010
- 3. 电子科技大学,四川成都 611731
- 4. 中国电子科技集团公司第二十九研究所,四川成都 610000
- 折叠
摘要
[目的]绝缘子作为微波组件内、外部的连接器件,其引线与玻璃封接处容易断裂.[方法]采用金相显微镜、扫描电镜、能谱仪等手段对上述断裂的原因进行分析.[结果]通过机理探讨与现场观察相结合,确定症结在于应力腐蚀开裂.绝缘子引线断裂分为3个阶段:点蚀过程及裂纹萌生,裂纹扩展,以及纯力学快速断裂.[结论]采用化学抛光与机械研磨相结合、镍金交叉镀覆的新工艺可以消除绝缘子引线封接处镀层应力敏感性和应力条件,令镀层的结合力、耐盐雾性能及焊接性能均达到工艺要求.
关键词
绝缘子/引线/断裂/应力腐蚀/化学抛光/镍/金/交叉镀覆Key words
insulator/lead/fracture/stress corrosion/chemical polishing/nickel/gold/alternate electroplating引用本文复制引用
出版年
2024
NETL
NSTL
维普
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