火花试验装置如何适应集成电路的发展

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中文摘要：火花试验装置作为本质安全型防爆技术重要的型式检验环节,阐述了火花试验装置如何满足集成电路的飞速发展.

外文标题：How the Spark Test Devices Adapt to the Development of Integrated Circuits

外文摘要：Spark test device,as an important type inspection link of intrinsically safe explosion-proof technology,it explains how to meet the rapid development of integrated circuit.

外文关键词：

intrinsically safeignition probabilityintegrated circuit

作者：

汝长青

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作者单位：

上海市质量监督检验技术研究院,上海 201114

国家灯具质量检验检测中心,上海 201114

关键词：

本质安全型点燃概率集成电路

出版年：

2024

DOI：

10.14023/j.cnki.dqfb.2024.05.012

电气防爆

南阳防爆电气研究所

电气防爆

影响因子：0.26

ISSN：1004-9118

年,卷(期)：2024.(5)