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SMD封装器件的检测筛选方法研究
SMD封装器件的检测筛选方法研究
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中文摘要：
本文针对微小器件检测筛选速度慢的问题,提出对SMD封装器件的检测筛选方法的研究.设计SMD封装器件轮廓跟踪检测筛选法,经过实验验证,表明设计的检测筛选方法具有更快的速度.所设计的方法对微小型器件的检测筛选具有便捷的操作性,为SMD封装器件的检测筛选提供一种技术手段.
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作者：
袁咏歆、韩璞辉
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作者单位：
陕西省电子技术研究所
关键词：
封装
器件
检测
筛选
出版年：
2021
消费电子
中国电子商会
消费电子
影响因子：
0.076
ISSN：
1674-7712
年,卷(期)：
2021.
(10)
参考文献量
5
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