基于对消技术的微波部件弱无源互调测试方法

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中文摘要：提出一种基于对消技术的微波部件弱无源互调测试方法,针对辐射型和导波型器件分别给出无源互调测试系统框图,并仿真分析对消电路中延时线的设计要求.该测试方法保证了后续互调测试中没有信号源杂散的干扰,提高了弱PIM测试的准确性,能够用在生产工艺过程中对原材料以及产品PIM来源的检测,提高产品合格率.

作者：

武东伟、郭昊、谢拥军

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作者单位：

北京航空航天大学

关键词：

对消技术无源互调微波部件测试方法

基金：

国家自然科学基金资助项目"十三五"装备预研领域基金

项目编号：

615710226140518050116H01001

出版年：

2019

电信技术

人民邮电出版社

电信技术

影响因子：0.448

ISSN：1000-1247

年,卷(期)：2019.(1)

被引量1
参考文献量9