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内置测试BIT设计的可靠性分析

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阐述内置测试(BIT)系统的设计原理、可靠性分析以及性能评估方法,探讨系统在各个关键应用领域中的重要性和应用范围.通过具体案例和数据分析,展示BIT系统的性能特点和可靠性.
Analysis of Reliability of Built in Test BIT Design
This paper expounds the design principles,reliability analysis,and performance evaluation methods of built-in testing(BIT)systems,and explores the importance and application scope of the system in various key application fields.Through specific cases and data analysis,it demonstrates the performance characteristics and reliability of the BIT system.

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赵龙飞、刘洋、周永明

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北京航天发射技术研究所,北京 100076

内置测试BIT 可靠性分析 性能评估

2024

电子技术
上海市电子学会,上海市通信学会

电子技术

影响因子:0.296
ISSN:1000-0755
年,卷(期):2024.53(3)
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