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一种多层瓷介电容失效分析方法的应用

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阐述为高效开展多层瓷介电容(MLCC)的失效分析,基于该类器件在高可靠领域中的使用和失效分析数据,从短路、开路、参数漂移三种主要失效模式出发,提出一种简单可行的失效分析方法.
Application of a Failure Analysis Method for Multilayer Ceramic Capacitors
This paper describes a simple and feasible failure analysis method in order to work on the failure analysis of multilayer ceramic capacitor(MLCC)efficiently,based on the use and failure analysis data in high reliability field,from the three main common failure modes:short circuit,open circuit,out-of-tolerance of parameter.

multilayer ceramic capacitorfailure analysisfailure mode

李泱、郭焕焕、刘江城、王宇

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中国运载火箭技术研究院,北京 100076

多层瓷介电容 失效分析 失效模式

2024

电子技术
上海市电子学会,上海市通信学会

电子技术

影响因子:0.296
ISSN:1000-0755
年,卷(期):2024.53(10)