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基于超声扫描的塑封器件缺陷判定方法研究

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超声扫描检测因为其灵敏度高、对样品没有损伤的特点,被广泛地应用到塑封器件的筛选和检测中,但是目前不存在一个完整的超声扫描检测方法.对塑封器件缺陷进行分析,提出一种塑封器件缺陷的超声扫描检测方法.该方法采用A扫描与C扫描检测塑封器件内部的缺陷,其过程为塑封体缺陷检测与重要界面缺陷检测.与现有GJB 4027A要求的聚焦6个重要界面的检测方法相比,本方法只需要聚焦两个界面即可观察到6个界面的情况,可以提升检测效率.
Defect Detection Method of Plastic-Capsulated Devices Based on Ultrasound Scanning

王旭亮、杨达明、黄姣英

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93128部队,北京100843

北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京100191

电子设备 塑封器件 超声扫描检测 缺陷

2020

电子器件
东南大学

电子器件

CSTPCD北大核心
影响因子：0.569
ISSN：1005-9490
年,卷(期)：2020.43(1)
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