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基于失效物理原理的光耦寿命分析研究

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为研究光耦应用于智能电表中的可靠性寿命,针对光耦进行失效分析和试验验证.基于失效物理原理的思路,采用威布尔模型推算出光耦的可靠度和工作寿命,并结合Eyring模型推算出寿命模型.结果推算出智能电表的3个典型电路如各采用1个光耦,则在65℃下老化110h后,将会逐渐筛选出100％的该失效物理原理光耦,能为光耦的工艺质量控制和可靠性预计方面提供参考依据.
Research on Optical Coupler Life AnalysisBased on Failure Physics Principle

黄友朋、刘新润、王乐、魏雄飞、孙志端、卢炽华

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广东电网有限责任公司计量中心,广东510000

威胜集团有限公司,长沙410000

光耦 失效物理 威布尔模型 寿命 智能电表

2020

电子器件
东南大学

电子器件

CSTPCD北大核心
影响因子：0.569
ISSN：1005-9490
年,卷(期)：2020.43(1)
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