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SN74LS00N芯片高电平输出特性的理论与实验研究

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本文通过对目前流行的四家SN74LS00N与非门集成电路芯片的高电平输出特性(输出电压VOH与拉电流IOH的关系)的理论和实测研究,给出几乎所有讲解74LS00门电路的《数字电子技术》教材中忽略的和缺失的但确实应该给出的真实输出特性,同时还给出了拟合两个关键的内部电路参数的方法,这对廓清许多教师和电子工程师对输出高电平最小电压VOH(min)和最大电流IOH(max)的理解有帮助,并对该系列电子器件的实验教学、相关电子工程设计,以及对该课教材的编写、出版和教学起到积极的推动作用.
Theoretical and Experimental Studies on the High-Level Output Property of SN74LS00N Chips

刘晓东、涂丽平

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天津工业大学物理科学与技术学院,天津300387

天津工业大学工程教学实习训练中心,天津300387

TTL门电路 集成与非门 SN74LS00N 高电平输出特性 拉电流

国家教育部回国人员科研启动基金(第48批)

2020

电子器件
东南大学

电子器件

CSTPCD北大核心
影响因子：0.569
ISSN：1005-9490
年,卷(期)：2020.43(3)
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