电子世界2021，Issue(13) ：200-201.

基于NX二次开发的特征识别与提取

于洋
电子世界2021，Issue(13) ：200-201.
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基于NX二次开发的特征识别与提取

于洋1
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作者信息

  • 1. 长春理工大学机电工程学院
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出版年

2021
电子世界
中国电子学会 北京思得易咨询中心

电子世界

影响因子：0.238
ISSN：1003-0522
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