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基于NX二次开发的特征识别与提取

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于洋

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长春理工大学机电工程学院

2021

电子世界
中国电子学会 北京思得易咨询中心

电子世界

影响因子：0.238
ISSN：1003-0522
年,卷(期)：2021.(13)