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高压脉冲功率多层瓷介电容器外部应力对可靠性影响分析研究

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郑松、展学磊

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西安机电信息技术研究所

2021

电子世界
中国电子学会 北京思得易咨询中心

电子世界

影响因子：0.238
ISSN：1003-0522
年,卷(期)：2021.(21)