电子世界2021，Issue(21) ：41-42.

高压脉冲功率多层瓷介电容器外部应力对可靠性影响分析研究

郑松 展学磊
电子世界2021，Issue(21) ：41-42.
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高压脉冲功率多层瓷介电容器外部应力对可靠性影响分析研究

郑松 1展学磊1
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作者信息

  • 1. 西安机电信息技术研究所
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出版年

2021
电子世界
中国电子学会 北京思得易咨询中心

电子世界

影响因子：0.238
ISSN：1003-0522
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