电子元件与材料2024,Vol.43Issue(10) :1190-1198.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2024.0145

三维集成电子封装中TGV技术及其器件应用进展

Review on TGV technology and its application in three-dimensional integrated electronic packaging

张迅 王晓龙 李宇航 行琳 刘松林 阳威 洪华俊 罗宏伟 王如志
电子元件与材料2024,Vol.43Issue(10) :1190-1198.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2024.0145

三维集成电子封装中TGV技术及其器件应用进展

Review on TGV technology and its application in three-dimensional integrated electronic packaging

张迅 1王晓龙 2李宇航 2行琳 3刘松林 4阳威 4洪华俊 2罗宏伟 5王如志3
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作者信息

  • 1. 北京工业大学材料科学与工程学院新能源材料与技术研究所新型功能材料教育部重点实验室,北京 100124;江西沃格光电股份有限公司,江西新余 338004
  • 2. 江西沃格光电股份有限公司,江西新余 338004
  • 3. 北京工业大学材料科学与工程学院新能源材料与技术研究所新型功能材料教育部重点实验室,北京 100124
  • 4. 湖北通格微电路科技有限公司,湖北天门 431700
  • 5. 工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州 510610
  • 折叠

摘要

在三维(3D)集成电路中,层间电路封装及其互联互通主要依赖于垂直通孔结构,这是其突破传统二维集成电路布局的核心与关键.近年来,玻璃通孔(TGV)技术由于具备低成本、高性能、易于加工和应用前景广阔等优点,日益引起了科研人员和电子厂商们的关注与重视.首先综述了 TGV技术的性能优势、工艺特点、制备方法及关键技术.在此基础上,总结了 TGV技术在三维集成无源器件(IPD)、集成天线封装、微机电系统(MEMS)封装以及多芯片模块封装等多个三维集成电子封装领域中的应用进展.基于此,进一步展望了 TGV技术在未来三维集成电子封装中的发展方向与应用前景.

Abstract

In three-dimensional(3D)integrated circuits,through-via interconnects are pivotal for layer-to-layer packaging and connectivity,which is critical for breaking through the traditional two-dimensional integrated circuit layout.Lately,through glass via(TGV)technology has garnered significant interest from researchers and manufacturers due to its compelling benefits,such as low cost,superior performance,easy fabrication,and diverse applicability.This article first gives an in-depth review of the TGV technology on the performance merits,process specificities,manufacturing methods,and key technologies.Subsequently,it summarizes the burgeoning applications of the TGV technology in 3D integrated electronic packaging,encompassing 3D Integrated Passive Devices(IPD),integrated antenna packaging,Micro-Electro-Mechanical Systems(MEMS),and multi-chip module packaging.Finally,the future development directions and applications of the TGV technology in 3D integrated electronic packaging are further prospected.

关键词

电子封装/三维集成电路/综述/玻璃通孔技术/垂直互联/成孔/孔填充

Key words

electronic packaging/three-dimensional integrated circuits/review/through glass via(TGV)technology/vertical interconnection/via forming/via filling

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出版年

2024
电子元件与材料
中国电子学会 中国电子元件行业协会 国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)

电子元件与材料

CSTPCD北大核心
影响因子:0.491
ISSN:1001-2028
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