天文级CCD低温暗电流测试技术研究

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中文摘要：本文通过低噪声制冷测试技术构建了电荷耦合器件(CCD)暗电流的测试系统,借助国产CCD器件,对暗电流测试结果与积分时间的相关性、暗电流与温度的相关性和不同加热方式对暗电流测试精度的影响进行了实测和分析研究.研究结果表明,低温条件下,积分时间满足一定时长后,暗电流信号量与积分时间呈线性关系,CCD器件暗电流随温度变化而呈现指数变化的趋势,不同的加热控温方式可能给测试系统引入干扰,而直流电源加热可避免干扰,提高CCD暗电流测试的准确性.

作者：

李博乐、柳稼齐、涂戈、陈东

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作者单位：

中国电子科技集团公司第四十四研究所,重庆,400060

关键词：

CCD 低温暗电流控温干扰

出版年：

2024

DOI：

10.19772/j.cnki.2096-4455.2024.4.001

电子元器件与信息技术

ISSN：

年,卷(期)：2024.8(4)