基于STM32F407的分布式自动化芯片实装测试系统设计

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中文摘要：针对芯片生产测试过程中,人工测试存在的漏测、误测、效率低等弊端,本文设计了基于STM32F407的分布式自动化芯片实装测试系统.该系统能够实现芯片自动化测试,并且能够支持实装测试板基于CAN总线的分布式连接,实现多个芯片同时测试.此外,该系统能够自动保存各个测试阶段的数据,并且与芯片唯一ID号绑定,实现芯片全流程测试过程的追溯.实验表明,该系统能够高效可靠地实现多芯片的同步测试、数据保存及解析.

作者：

张尧、张铆、韦凯

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作者单位：

中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214122

关键词：

芯片测试自动化分布式 STM32F407 可追溯

出版年：

2024

DOI：

10.19772/j.cnki.2096-4455.2024.8.007

电子元器件与信息技术

ISSN：

年,卷(期)：2024.8(8)