电子元器件与信息技术2024，Vol.8Issue(9) ：4-6.DOI:10.19772/j.cnki.2096-4455.2024.9.002

基于红外波检测的隐身涂层损伤检测技术

李阳 刘伟光 王海波 许航航
电子元器件与信息技术2024，Vol.8Issue(9) ：4-6.DOI:10.19772/j.cnki.2096-4455.2024.9.002
✕
  • 维普
  • 万方数据

基于红外波检测的隐身涂层损伤检测技术

李阳 1刘伟光 1王海波 1许航航1
扫码查看

作者信息

  • 1. 西安应用光学研究所,陕西 西安,710065
  • 折叠

摘要

隐身涂层出现损伤后会降低设备使用性能,加强对其损伤的检测有助于及时发现风险并加以解决.本次研究概述了红外隐身涂层的基本原理及构成要素,并在剖析红外隐身涂层损伤成因的基础上,分别从背景技术、检测需求、技术方案、具体实施四个方面,对一种基于红外波检测的隐身涂层损伤检测技术进行了具体探讨.

关键词

红外波检测/隐身涂层/损伤检测技术

引用本文复制引用

出版年

2024
电子元器件与信息技术

电子元器件与信息技术

ISSN：
段落导航相关论文