电子元器件与信息技术2024，Vol.8Issue(9) ：26-29.DOI:10.19772/j.cnki.2096-4455.2024.9.009

基于LabVIEW的SiC MOSFET器件单粒子效应测试系统

岑政 向飞 吴兆希 杨蕊亦 叶思楠 王祖正
电子元器件与信息技术2024，Vol.8Issue(9) ：26-29.DOI:10.19772/j.cnki.2096-4455.2024.9.009
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基于LabVIEW的SiC MOSFET器件单粒子效应测试系统

岑政 1向飞 1吴兆希 1杨蕊亦 1叶思楠 1王祖正1
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  • 1. 中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆,400060
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摘要

为达到对碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)单粒子效应的实时监测,设计并实现了一个基于虚拟仪器平台的测试系统.选取了一款1200V、80mΩ、TO-247塑料封装的SiC MOSFET器件作为测试对象,通过LabVIEW软件对电源与示波器进行自动控制并实时采集与显示.试验结果表明,该测试系统能够准确执行测试要求,完成数据的自动采集、判读和存储.为抗辐照SiC MOSFET加固设计提供支撑平台.

关键词

SiC/MOSFET/单粒子效应/虚拟仪器/状态机

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出版年

2024
电子元器件与信息技术

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