电子元器件应用2012，Vol.14Issue(3) ：41-43.DOI:10.3969/j.issn.1563-4795.2012.03.012

“光荧光”光谱测试系统设计

郑大坤 邹继军
电子元器件应用2012，Vol.14Issue(3) ：41-43.DOI:10.3969/j.issn.1563-4795.2012.03.012
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“光荧光”光谱测试系统设计

郑大坤 1邹继军1
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  • 1. 东华理工大学机械与电子工程学院,344000
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摘要

光荧光(Photoluminescence,PL)是材料吸收光子后的一种自发放射.由于光荧光光谱对于检测半导体材料的光特性是一个有力而又无破坏的技术,根据放射特征光谱分析可获取材料的掺杂杂质种类、能隙大小、化合物中的组成成分、载流子寿命等重要讯息.文中从硬件和软件两个方面进行阐述,着重于光荧光光谱测试系统设计,完成测量光谱范围达到200-2000nm,测试精度达到1nA(1μV),克服了传统测试系统灵敏度不高、测试光谱范围有限的缺点.

关键词

光荧光/系统设计/光谱特性

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出版年

2012
电子元器件应用
中国电子元件行业协会 中国电子学会元件分会

电子元器件应用

ISSN：1563-4795
参考文献量3
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